半導体薄膜堆積プロセスは、現代のマイクロエレクトロニクス技術の重要な要素です。これには、半導体基板上に 1 つ以上の材料の薄い層を堆積することによって複雑な集積回路を構築することが含まれます。
炭化ケイ素 (SiC) はワイドバンドギャップ半導体材料であり、高電圧および高温用途における優れた性能により、近年大きな注目を集めています。この研究では、プロセス条件を変更して成長させた SiC 結晶のさまざまな特性を系統的に調査しています。
熱アニーリングとしても知られるアニーリング プロセスは、半導体製造における重要なステップです。
ウェーハを洗浄する場合、ウェーハ表面からパーティクルを除去するために超音波洗浄とメガソニック洗浄が一般的に使用されます。
4H-SiC は、第 3 世代の半導体材料として、広いバンドギャップ、高い熱伝導率、優れた化学的および熱的安定性で知られており、高出力および高周波の用途で非常に価値があります。
単結晶育成炉は 6 つの主要なシステムで構成されており、それらが調和して動作することで、効率的かつ高品質な結晶成長を実現します。