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4 インチ高純度半絶縁 HPSI SiC 両面研磨ウェハ基板
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4 インチ高純度半絶縁 HPSI SiC 両面研磨ウェハ基板

セミコレックスでは、さまざまなタイプの 4H および 6H SiC ウェーハを提供しています。当社は長年にわたりウェーハ基板の製造および供給を行ってきました。当社の 4 インチ高純度半絶縁 HPSI SiC 両面研磨ウェーハ基板は、価格面での利点があり、ヨーロッパおよびアメリカ市場のほとんどをカバーしています。私たちは、お客様の中国における長期的なパートナーとなることを楽しみにしています。

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製品説明

Semicorex は、N 型、P 型、高純度の半絶縁性ウェーハを備えた 4H および 6H 基板を含む完全な炭化ケイ素 (SiC) ウェーハ製品ラインを備えており、エピタキシーの有無にかかわらず対応できます。

当社の最先端の 4 インチ高純度半絶縁 HPSI SiIC 両面研磨ウェーハ基板を紹介します。これは、高度な電子および半導体アプリケーションの厳しい要件を満たすように設計された最上位製品です。

4 インチの高純度半絶縁 HPSI SiC 両面研磨ウェーハ基板は、主に 5G 通信、レーダー システム、誘導ヘッド、衛星通信、戦闘機などの分野で使用され、RF 範囲、超長距離を強化するという利点があります。識別、ジャミング防止、高速大容量情報転送などの用途に使用されるマイクロ波パワーデバイスの製造に最も理想的な基板と考えられています。


仕様:

●直径:4インチ。

●ダブルポリッシュ

●l グレード: 生産、研究、ダミー

●4H-SiC HPSIウェハ

●厚み:500±25μm

●マイクロパイプ密度: ≤1 ea/cm2~ ≤10 ea/cm2


アイテム

生産

研究

ダミー

クリスタルパラメータ

ポリタイプ

4時間

軸上の面配向

<0001>

軸外の面配向

0±0.2°

(0004)FWHM

≤45秒角

≤60秒角

≤100 秒角

電気的パラメータ

タイプ

HPSI

抵抗率

≧1E9Ω・cm

100%面積 > 1 E5Ω・cm

70% 面積 > 1 E5Ω・cm

機械的パラメータ

直径

99.5~100mm

厚さ

500±25μm

プライマリフラット方向

[1-100]±5°

一次平坦長さ

32.5±1.5mm

二次フラット位置

一次平面から 90° CW ±5°。シリコンフェイスアップ

二次平坦長さ

18±1.5mm

TTV

≤5μm

≤10μm

≤20μm

LTV

≤2μm(5mm*5mm)

≤5μm(5mm*5mm)

それ

-15μm~15μm

-35μm~35μm

-45μm~45μm

ワープ

≤20μm

≤45μm

≤50μm

表面(Si面)粗さ(AFM)

Ra≦0.2nm (5μm*5μm)

構造

マイクロパイプ密度

≤1ea/cm2

≤5 ea/cm2

≤10ea/cm2

炭素含有密度

≤1ea/cm2

それ

六角形の空洞

なし

それ

金属不純物

≤5E12原子/cm2

それ

フロント品質

フロント

そして

表面仕上げ

Si面CMP

粒子

≤60ea/ウェーハ (サイズ≧0.3μm)

それ

≤2ea/mm。累積長さ ≤ 直径

累積長さ≤2*直径

それ

オレンジの皮/穴/汚れ/縞模様/ひび割れ/汚染

なし

それ

エッジ欠け/圧痕/欠損/六角プレート

なし

ポリタイプ領域

なし

累積面積≤20%

累積面積≤30%

前面レーザーマーキング

なし

バック品質

裏面仕上げ

C面CMP

≤5ea/mm、累積長さ≤2*直径

それ

裏面欠陥(エッジ欠け/凹み)

なし

裏面粗さ

Ra≦0.2nm (5μm*5μm)

背面のレーザーマーキング

1mm(上端から)

面取り

包装

包装

内袋は窒素で満たされ、外袋は真空にされます。

マルチウェーハカセット、エピ対応。

※注:「NA」は要望なしを意味します。 記載のない項目についてはSEMI-STDを参照している可能性があります。




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