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ICPエッチングプロセス用ウェーハホルダー

ICPエッチングプロセス用ウェーハホルダー

Semicorex の ICP エッチングプロセス用ウェーハホルダーは、要求の厳しいウェーハハンドリングや薄膜堆積プロセスに最適です。当社の製品は、優れた耐熱性と耐腐食性、均一な熱均一性、および一貫した信頼性の高い結果をもたらす最適な層流ガス フロー パターンを誇ります。

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製品説明

ウェーハハンドリングおよび薄膜堆積プロセスにおける信頼性の高い一貫したパフォーマンスを実現するには、ICP エッチングプロセス用の Semicorex のウェーハホルダーをお選びください。当社の製品は、高温酸化耐性、高純度、酸、アルカリ、塩、有機試薬に対する耐食性を備えています。
当社の ICP エッチング プロセス用ウェーハ ホルダーは、最適な層流ガス フロー パターンを実現し、熱プロファイルの均一性を保証するように設計されています。これにより、汚染や不純物の拡散が防止され、ウェーハチップ上での高品質のエピタキシャル成長が保証されます。
ICP エッチング プロセス用のウェーハ ホルダーの詳細については、今すぐお問い合わせください。


ICPエッチングプロセス用ウェーハホルダーのパラメータ

CVD-SICコーティングの主な仕様

SiC-CVDの特性

結晶構造

FCC βフェーズ

密度

g/cm3

3.21

硬度

ビッカース硬さ

2500

粒度

μm

2~10

化学純度

%

99.99995

熱容量

J kg-1 K-1

640

昇華温度

2700

感覚の強さ

MPa(室温4点)

415

ヤング率

Gpa (4pt曲げ、1300℃)

430

熱膨張 (C.T.E)

10-6K-1

4.5

熱伝導率

(W/mK)

300


ICPエッチングプロセス用ウェーハホルダーの特長

- 剥がれを避け、すべての表面を確実にコーティングしてください。

高温酸化耐性:1600℃までの高温でも安定

高純度: 高温塩素化条件下での CVD 化学蒸着によって製造されます。

耐食性:高硬度、緻密な表面、微細な粒子。

耐食性: 酸、アルカリ、塩および有機試薬。

- 最適な層流ガス流パターンを実現

- 熱プロファイルの均一性を保証

- 汚染や不純物の拡散を防止します。





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